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LED驅動電路功率因數改善探討以及NCP1014解決方案
本參考設計將分析現有照明LED驅動電路設計功率因數低的原因,探討改善功率因數的技術及解決方案,介紹相關設計過程、元器件選擇依據、測試數據分享,顯示這參考設計如何輕松符合“能源之星”固態照明標準的功率因數要求,非常適合低功率LED照明應用。
2010-06-21
功率因數 PFC NCP1014LEDGTGEVB NCP1014
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增值服務彰顯價值 科通寬帶看好無線產品市場
隨著國內分銷市場競爭日益激烈,單純依靠產品的買進賣出早已不能適應市場需求,更多的分銷商正尋求差異化的競爭優勢,提供解決方案、技術支持、庫存、信息咨詢、VIM服務、資金等多方面的增值服務。此外,集中優勢,深挖某一個行業,全面了解該行業的客戶需求及服務特點,建立對應的技術和服務團隊。...
2010-06-21
科通寬帶 增值服務 三網融合 無線產品
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BGA封裝的焊球評測
BGA和CSP等陣列封裝在過去十年里CAGR已增長了近25%,預計還將繼續維持此增長率。同時,器件封裝更加功能化,具有更高的I/O數量,更細的節距。但是好的焊球是什么樣一個標準,如何才能做好是很多初學者的疑問,請看本文為你的分析
2010-06-21
BGA封裝 焊球 評測 HJTECH
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可制造性設計
PCB可制造性設計分析(DFM系統)是一個促進生產力的強大工具。它能促使你在毫無損失的情況下使設計更加小型化,降低產品上市時間并信心十足地在全球制造趨勢中獲利受益。如果不使用DFM,則你可能面臨高成本、高風險的巨大挑戰。不信,那么請仔細的閱讀本文
2010-06-21
可制造性 DFM PCB設計 新產品導入(NPI)
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無塵室電纜集塵問題研究
對于潔凈室環境來說,電纜拖鏈中的電纜集塵是一個復雜的問題。為了盡量減少集塵,需要盡可能地避免電纜以及套管之間的摩擦。盡管通過減少運動器件可以減少集塵,但是自動生產線上電纜的運動不可避免。本文對無塵室電纜拖鏈中的電纜集塵問題進行研究,幫組大家解決這個問題
2010-06-21
無塵室 電纜 集塵問題 潔凈室
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半導體C-V測量基礎
電容-電壓(C-V)測試廣泛用于測量半導體參數,尤其是MOSCAP和MOSFET結構。此外,利用C-V測量還可以對其他類型的半導體器件和工藝進行特征分析,包括雙極結型晶體管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機TFT顯示器、光電二極管、碳納米管(CNT)和多種其他半導體器件。本文為...
2010-06-21
半導體 C-V測量 MOSFET JFET
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2010年半導體設備產業將勁揚113.2%
Gartner副總裁Klaus Rinnen表示:技術升級,將帶動 2010年半導體資本設備市場的成長。對40奈米和45奈米設備的需求大幅增加,帶動晶圓代工的龐大資本支出。英特爾對3x奈米的投資,NAND 記憶體制造商支出增加,以及升級至下一世代 DDR3 DRAM 記憶體,皆為主要的投資成長動能。
2010-06-21
半導體 設備產業 Gartner
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