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如何設(shè)計(jì)電力系統(tǒng)直流電源的自動(dòng)調(diào)壓裝置
電力系統(tǒng)所需的直流電源，都是由直流電源系統(tǒng)提供的，而直流電源系統(tǒng)的輸出為合閘母線和控制母線兩部分。合閘母線的電壓即為充電機(jī)輸出電壓值,合閘母線的電壓高，其作用是為合閘機(jī)構(gòu)提供操作電源。控制母線的電壓要比合閘母線的電壓低，而充電機(jī)在滿足給蓄電池正常充電的情況下，其輸出電壓要高于控...
2012-12-11
電力系統(tǒng) 直流電源 自動(dòng)調(diào)壓裝置
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電源管理的發(fā)展及設(shè)計(jì)
我們可以將當(dāng)今的電源管理環(huán)境與上世紀(jì)后期的情況做一比較。上世紀(jì)80年代和90年代早期是NPN線性調(diào)節(jié)器的天下，這種用于轉(zhuǎn)換電平的簡(jiǎn)單電路幾乎不需要什么智能成分。此外，由于便攜式電子產(chǎn)品剛剛流行起來(lái)，而且電力廉價(jià)、充裕，因此沒(méi)有理由要求線性調(diào)節(jié)器以高效率工作。
2012-12-11
電源管理 發(fā)展
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數(shù)字信號(hào)處理器的POL電源解決方案設(shè)計(jì)
當(dāng)我們?yōu)門I的DaVinci數(shù)字信號(hào)處理器 (DSP)進(jìn)行POL電源解決方案設(shè)計(jì)時(shí)，對(duì)基本電源技術(shù)的充分了解可以幫助我們克服許多設(shè)計(jì)困難。本文將對(duì)一系列適用于該DaVinci處理器的電源去耦、浪涌電流、穩(wěn)壓精度和排序技術(shù)進(jìn)行討論。
2012-12-11
數(shù)字信號(hào)處理器 POL電源
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高中低敏感度的四款霍爾開(kāi)關(guān)，覆蓋不同應(yīng)用
Diodes新推出四款霍爾開(kāi)關(guān)，可以有效優(yōu)化敏感度，有兩款高度敏感的器件，適用于手機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理和筆記本電腦等便攜式消費(fèi)性產(chǎn)品，以及工業(yè)應(yīng)用裝置。另外兩款為中敏感度和低敏感度，適用于磁場(chǎng)強(qiáng)度較大的應(yīng)用。
2012-12-11
霍爾開(kāi)關(guān) 敏感度 磁場(chǎng)檢測(cè)
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高亮度、大功率的LED驅(qū)動(dòng)器的探討
LED技術(shù)已然取得了很大進(jìn)步，在散熱、封裝和工藝方面的改進(jìn)已經(jīng)獲得了高亮度、高效率、長(zhǎng)壽命和低成本。與白熾燈不同，LED沒(méi)有會(huì)燒壞的燈絲，而且工作時(shí)往往溫度較低。而如今大功率、高亮度的LED驅(qū)動(dòng)器也再創(chuàng)新高。
2012-12-10
大功率 高亮度 LED驅(qū)動(dòng)器
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如何改善功率因素（PFC）和電源的性能
如何改善功率因素(PFC)和電源的性能呢？這里介紹一種利用前沿調(diào)制的方法來(lái)提高功率因素和電源的性能。本文主要講解什么是前沿調(diào)制(PWM)，以及它是如何通過(guò)減少升壓電容器(IC)中的高頻RMS電流來(lái)提高效率的。
2012-12-10
PFC 電源 PWM
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宇陽(yáng)MLCC小型化技術(shù)追上村田，性能也不輸村田
在MLCC陶瓷電容市場(chǎng)，村田是當(dāng)之無(wú)愧的老大，今年市場(chǎng)出貨量高達(dá)5千億個(gè)，而中國(guó)最大的MLCC陶瓷電容供應(yīng)商宇陽(yáng)科技今年出貨量還只有7百億個(gè)。但中國(guó)最大的MLCC制造商宇陽(yáng)已經(jīng)在小型化技術(shù)上追上村田，未來(lái)的目標(biāo)將是爭(zhēng)奪市場(chǎng)頭把交椅。
2012-12-10
宇陽(yáng) MLCC 村田
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太陽(yáng)能電池高污染、高耗能？
太陽(yáng)能電池在使用過(guò)程中確實(shí)具有無(wú)排放，無(wú)噪音，無(wú)能耗的清潔能源稱號(hào)，但當(dāng)今主流卻忽略了太陽(yáng)能電池光鮮表面背后生產(chǎn)過(guò)程中的高污染、高能耗的問(wèn)題。
2012-12-07
太陽(yáng)能電池 高污染 高耗能
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淺析上電循環(huán)電路設(shè)計(jì)實(shí)例
本文設(shè)計(jì)實(shí)例描述了一個(gè)簡(jiǎn)單而廉價(jià)的上電循環(huán)電路，它只用少量元件。上電循環(huán)測(cè)試非常重要，因?yàn)樗鼫y(cè)試的是用戶環(huán)境。設(shè)計(jì)不良的系統(tǒng)板或芯片會(huì)造成上電循環(huán)測(cè)試失敗。此外，對(duì)系統(tǒng)板工作臺(tái)測(cè)試時(shí)，上電循環(huán)測(cè)試的設(shè)置可能需要采用沉重而昂貴的商用電源。當(dāng)你需要同時(shí)測(cè)試多塊系統(tǒng)板時(shí)，情況更加糟糕。
2012-12-07
上電循環(huán)電路 設(shè)計(jì)實(shí)例
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